包裹體微粒礦物礦相分析圖像顯微鏡廠家
在熱液淋濾坑中見到形成假次生包裹體的另一種機制,即較晚生長
的晶體繼后覆蓋了淋濾坑。這種作用比一般所認識的作用可能更為普
遍,它可能產生大個的流體包裹體,可見它們橫切生長帶。一個品體的
淋濾很少是簡單地移去均勻的層由于各種原因,某些晶棱線、晶帶或區
域以很快的速度溶解.所產生的溶蝕坑深度可能是寬度的100倍
擴散到位錯中的雜質可引起較高的溶解度,并由此產生淋濾坑。沿
看不見的位錯分布的深蝕坑常常發生于人造水晶工廠的晶芽板中。相
似的深蝕坑可能發生于數個生長螺旋體的交會部位,或該晶體表面碰傷
的頂部(大概是生長螺旋體的頂部)
有些包裹體成核于晶體表面,而另一些則從流體中沉淀出來。通常
沉淀出來的微粒起核心作用而進一步生長。它們二者都可能偶然捕獲
于正在形成的流體包裹體中,因此它們可能與包裹體封存后從所捕獲的
流體中結晶出來的子礦物相混淆(見捕獲后的變化一節)。二者的區別
主要在于包裹體中的各種相的比例不同:如果某礦物僅出現于某些流體
包裹體中,其變化量又很大(特別是如果它們以單固相包裹體存在于主
礦物中),那么這種礦物則可能為外來固體包裹體;相反,子礦物則應該
是普遍存在的,并且與其他相的比例較有規律。如果被捕獲的流體是由
很小的晶體的彌散物(或甚至是一種膠質懸浮物)組成,它們后來在每個
包裹體中再結晶為單一晶體,此時我們便可能作出錯誤的解釋。如果這
種彌散物相對包裹體的大小達到足夠細小的程度,那么包裹體中的相的
比例便是一定的。作者還沒有證據表明,在自然界確實有這種包裹體出
現過。真正的原生包裹體常見于固體包賽體帶中,這種固體包裹體粘在
某些顆粒上。無論固相是充填脈物質的外來固體包裹體還是子礦物,包
裹體中的流體一般對固體是飽和的。這種情況對于粉碎的圍巖碎塊來
說可能并不真實。
液休+氣休或液體十蒸氣
常常見到反而是從一種液相介質中捕獲的“原生氣體”包褻體。氣
泡可以由主液體的蒸氣組成(也即一種沸騰溶液),或由液體中的某種很
次要的氣體成分組成(也即一種泡騰溶液)。熱液體系中原生氣體包裹
體趨向于形成大個包裹體,但是在硅酸鹽熔融體中它們可能非常之小。
雖然這兩種類型氣相演化可能會給留存的濃體成分帶來很不同的影響,
但是它們實際上代表一個連續系列總兩個端員,而且是不易區別的。在
通常條件下每種揮發性組分在氣相
