掃描穿遂顯微鏡可以量測(cè)「金屬固體」(良導(dǎo)體)表面

使用硅晶圓或奈米碳管(CNT)製作成針尖小于100nm(奈米)的奈米尖端，當(dāng)奈米尖端由「金屬固體」表面掃過(guò)時(shí)，尖端接觸「金屬」表面會(huì)導(dǎo)電，利用導(dǎo)電的大小來(lái)控尖端隨物體表面高低起伏而上下移動(dòng)，可以量測(cè)「金屬固體」(良導(dǎo)體)表面。將尖端上下移動(dòng)情形記錄下來(lái)，并且利用電腦模擬物體表面三維高低起伏而繪出相對(duì)應(yīng)的三維圖形。掃描穿遂顯微鏡(STM)的解析度與奈米尖端的尺寸有關(guān)，可以用來(lái)觀察大約1nm(奈米)的結(jié)構(gòu),體視顯微鏡，因此可以看到由電腦模擬的原子影像。

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